射線照相法是利用射線透過物質時，會發生吸收和散射這一特征，通過測量材料中因缺陷存在影響射線的吸收來探測缺陷的。X射線和γ射線通過物質時，其強度逐漸減弱。一般認為是由光電效應引起的吸收、康普頓效應引起的散射和電子對效應引起的吸收三種原因造成的。射線還有一個重要性質，就是能使膠片感光，當X射線或γ射線照射膠片時，與普通光線一樣，能使膠片乳劑層中的鹵化銀產生潛象中心，經過顯影和定影后就黑化，接收射線越多的部位黑化程度越高，這個作用叫做射線的照相作用。因為X射線或γ射線使鹵化銀感光作用比普通光線小得多，所以必須使用特殊的X射線膠片，還使用一種能加強感光作用的增感屏。

　　射線照相的探傷原理為，厚度為T毫米的物體中有厚度為ΔT毫米的缺陷時，x射線透過無缺陷部位的底片的黑度為D，而x射線透過有缺陷部位的底片黑度應為D+ΔD。把這種曝過光的膠片在暗室中經過顯影、定影、水洗和干燥。再將底片在觀片燈上觀察，根據底片上有缺陷部位與無缺陷部位的黑度圖象不一樣，就可判斷出缺陷的種類、數量、大小等結構內部的信息。這就是射線照相探傷的原理。