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　　檢測常識

【射線照相工藝要點】　>>返回上一頁

　�、僬障嗖僮鞑襟E：把被檢的物體安放在離X射線裝置或γ射線裝置500mm以上的位置處，將膠片盒緊貼在被檢物體的背后，讓射線照射適當的時間進行曝光。把曝光后的膠片在暗室進行顯影、定影、水洗和干燥后得到射線底片，將底片放在觀片燈上進行觀察，根據底片的黑度和圖象來判斷存在缺陷的種類、大小和數量，按相關標準對缺陷進行評定和分級。這是射線照相探傷的一般步驟。按射線源、
工件和膠片之間的相互位置關系，透照方式分為縱縫透照法、環縫外透法、環縫內透法、雙壁單影法和雙壁雙影法五種。附件1 其中雙壁單影法用于小直徑的容器或大口徑管子焊縫；雙壁雙影用于Φ89
以下管子對接焊縫。

　　②照相規范的確定：要得到好的射線照相底片，除了合理的選擇透照方式外，還必須選擇好的透照規范，使小缺陷能夠在底片上盡可能明顯地辨別出來，就是說照相要達到高靈敏度。為了達到這一目的，除了選擇質量好的細顆粒膠片外，還要取得好的射線照相對比度和清晰度。

　　射線照相清晰度：

　　是指底片上的圖象的清晰程度，它主要由兩部分組成，即固有不清晰度Ui和幾何不清晰度Ug，X射線管的焦點和γ射線源是有一定大小的，由于射線源具有一定的大小，在缺陷的圖象周圍就產生半影，假如缺陷橫向尺寸較小時，缺陷圖象就會淹沒于半影中，缺陷就難以看清了。缺陷的最大半影尺寸稱為缺陷的幾何不清晰度。幾何不清晰度Ug表示式：Ug=b*df/F-b
　　b—工件表面到膠片的距離
　　df—射線源的大�。ń裹c尺寸）
　　F—焦距（射線源到膠片的距離）
　　從式中看出，射線源到膠片的距離F愈大半影愈�。簧渚€源尺寸df愈小，半影愈小，b（工件表面到膠片的距離）愈小，半影愈小。也就是說工件愈薄，膠片貼得愈緊，清晰度愈好，射線源愈小，焦距愈大，清晰度愈好。

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